采用NI模块化仪器构建业界领先RFID测试系统

采用ni模块化仪器构建业界领先的rfid测试系统

作者:陈柯 邵晖

职务:软件工程师 总工程师

 公司:上海聚星仪器有限公司

一、 rfid技术及其测试

1. rfid技术简介

rfid是radio frequency identification的缩写,即射频识别,俗称电子标签。rfid技术是从二十世纪90年代兴起的一项非接触式自动识别技术。它是利用射频方式进行非接触双向通信,以达到自动识别目标对象并获取相关数据,具有精度高、适应环境能力强、抗干扰强、操作快捷等许多优点。近年来,rfid技术在国内外发展很快,产品种类很多,像ti、motorola、philips、microchip等世界著名厂商都生产rfid产品,并且各有特点,自成系列。rfid已被广泛应用于工业自动化、商业自动化、交通运输控制管理等众多领域,例如门禁系统、智能公交卡、商品物流管理以及第二代身份证等。

2. rfid测试需求及现状

作为无线通讯的新兴领域之一,rfid技术在具有无线通讯技术所共有的特性之外,又有着其独有的特殊性,其中最为重要的是标准的多样化。国际上制定rfid标准的组织比较著名的有三个:iso,美国的epc global以及日本的ubiquitous id center,目前已定义的rfid标准,包括工作频率在低频(120-134khz),高频(13.56mhz),超高频(433mhz、860-960mhz、2.45ghz)和特高频(5.8ghz)频率范围内,符合不同标准的不同产品,而且不同频段的rfid标签会有不同的特性。但无论采用哪种频率或标准,在产品开发和生产过程中都必须解决测试的问题。

rfid的测试主要为一致性测试,射频测试是最重要的测试内容,如射频包络测试、反应时间测试以及不同调制参数和编码方式下的数据读写等,以验证rfid标签的射频性能是否符合标准。芯片设计的影响、制造工艺的影响或者为不同类别的产品设计不同的天线,都会导致rfid标签的射频性能发生变化,因此在研发和生产过程中必须对该产品的射频性能进行测试,以保证其射频指标符合rfid射频标准的要求。

对于单一标准的通讯系统,如蓝牙,传统测试仪器制造商已能够为其提供综测仪。蓝牙测试系统配置包括一台测试仪和被测设备,其中测试仪作为主单元,被测设备作为从单元。两者之间通过射频电缆相连或通过天线经空中传输相连,在建立通讯链路的基础上进行参数的设置及测试。

对于rfid,采用传统仪器难以实现对多标准的支持,目前主流的传统测试仪器制造商尚未推出类似的综测仪。仅有tektronix推出的rtsa系统能够以第三方的方式在rfid通讯的过程中捕获信号并进行物理层测试,但由于其不具备rfid协议,不能进行协议层测试,且仍需要额外的读写设备作为主单元与被测单元建立通讯。

3. 基于ni技术的创新

随着成本的下降和标准化的实现,rfid技术的全面推广和普遍应用将是不可逆转的趁势。面对rfid测试领域的巨大需求以及相关测试仪器的匮乏,我们采用ni在测试领域的优势技术,结合聚星在射频测试领域的技术专长,成功的构建了一套基于模块化仪器的rfid测试系统。该系统的推出弥补了rfid测试领域的空白,对比于传统的测试仪器,无论是在功能还是性能上,该系统均处于业界领先地位。

首先,该系统具备rfid协议,能够主动与被测单元间建立通讯,不再依赖于额外的读写设备;其次,在软件层实现了对rfid多标准的支持,使用同一系统就能够对不同标准的rfid标签进行测试;再次,支持rfid标准中的各种调制方式、调制参数以及编码方式,能够实现从物理层到协议层的各种测试项目;最后,可以扩展支持厂家自定义的指令集,从而支持各厂家所生产的不同rfid产品。

另一方面,随着rfid产品产量的不断增大,测试时间将会成为制造过程中影响成本的一个重要因素,这就要求测试系统能够在非常短的时间内完成各种测试。基于模块化仪器的测试系统,以其高数据吞吐量、良好的集成性等分离仪器无法比拟的优势很好的满足了该需求。

二、 基于host的第一代rfid测试站

在目前的应用领域,符合国际标准的高频rfid正逐渐取代原来各厂家自行定义的低频rfid,并成为主流,其中应用较广的标准有iso14443、iso15693、iso18000-3以及epc c1g1等,俗称为第一代rfid,我们以host为处理核心构建了其测试系统。

1. 系统构架

该系统具有非常简洁的系统构架,采用矢量信号发生器(pxi-5671)和矢量信号分析仪(pxi-5660)作为射频仪器,并采用嵌入式控制器(pxi-8196)作为指令发生器和应答分析仪。

测试过程中由控制器生成指令,并进行编码,之后通过矢量信号发生器进行dac及上变频,调制在某一频率的载波信号上经天线向外发送,被测试的电子标

  • 采用NI模块化仪器构建业界领先RFID测试系统已关闭评论
    A+
发布日期:2019年07月02日  所属分类:参考设计