元器件测试器

本测试器可用来测试晶体三极管、二极管、led、(单双向)可控硅、电容和开关的通断特性,电路见图1740)this.width=740" border=undefined>

  测晶体三极管时,将引脚分别插入c、b、e,并根据三极管类型置好npn/pnp开关,按下s1,如晶体三极管良好,相应的led便会发光。

  测二极管时,阳极和阴极分别接在“+”和“-”端,开关置于npn位置,led1应发光。

  测led时,将led的阳极和阴极分别插入b、e,开关置于npn位置,按下s1,被测led应发光。

  测单向可控硅时,将开关置于npn位置,将引脚a、k、g分别连接c、e、b,按下s1放开后,led1应仍保留在发光状态。

  测双向可控硅时,将开关置于npn位置,将引脚t1、t2、g分别连接c、e、b,按下s1,led1应发光,松开后应熄灭。

  测电容时,将电容两端在分别连接“+”和“-”端,来回掀动npn/pnp开关,led1和led2应轮流发光,表示电容良好,但不能得出电容值。

  测开关通断时,npn/pnp开关置于任意位置,将被测开关接入“+”和“-”,如待测开关闭合且是好的,根据npn/pnp开关位置的不同,led1或led2就发光,否则开关未闭合或开关已坏。

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发布日期:2019年07月02日  所属分类:参考设计