PXI测试解决方案

随着多天线设计需要越来越精密的多通道测试配置,设计和表征用于基站、微蜂窝、微微蜂窝、中继器和移动设备等的元器件和射频子系统变得更加复杂。 安捷伦最新测试解决方案能够生成复杂的 lte/lte-a 多通道/ mimo 波形,并能够同时在频域和调制域进行多通道分析。易于使用的图形用户界面可显著缩短测试配置的设置时间。此外,该解决方案还对lte/lte-advanced mimo 和载波聚合的设置进行了优化。

该解决方案配有机箱背板触发工具,可以配置和发送背板触发,允许两台 pxie 机箱实现最佳的 mimo 时间同步。agilent rf m9381a pxie 矢量信号发生器搭配 m9391a pxie 矢量信号分析仪,可以在多通道之间提供小于 0.38% 的 evm 和小于 20 纳秒的时间同步,由此轻松实现时间同步的 2x2 或 4x4 mimo 测试。此外,该方案还支持高达 160 mhz 的信号生成和分析带宽,适用于广泛的 lte-advanced 载波聚合应用。

安捷伦科技公司宣布推出 lte/lte-advanced 多通道 pxi测试解决方案。该方案可加速配置多通道测试系统,有助于工程师进一步完善其复杂的载波聚合和空间多路复用 mimo 设计。http://ych02.51dzw.com

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发布日期:2019年07月02日  所属分类:参考设计