随着 ddr4 内存标准的发布，动态随机访问存储器（dram）的数据速率已提升至 3.2 gb/s。存储器系统设计工程师正面临着较之以往更大的挑战，面向高数据速率的存储信号探测变得非常困难。最新的 keysight ddr4 bga 内插器解决方案可以直接访问 dram 焊球，既能确保低负载，又能尽量减少对信号完整性的影响，从而让工程师能精确地测量 ddr4 信号。keysight ddr4 bga 内插器解决方案能够访问 ddr4 dram 中的时钟、选通、数据、地址和指令信号，可结合示波器进行一致性测试。
是德科技副总裁兼示波器和协议事业部总经理 dave cipriani 表示：“工程师在设计高速存储器系统时，需要借助恰当的探测工具来访问 dram 焊球，以进行精确的设计验证测量。我们最新的内插器解决方案与 infiniisim 波形转换工具套件搭配使用，能够提供最精确的器件信号显示，以确保新设计验证工作轻松完成。”
赛灵思公司电源和存储器技术市场总监 tamara schmitz 表示：“我们针对ultrascale器件的 ddr4 存储器解决方案以 2400 mb/s 的运行速度，经是德科技最新 ddr4 x16 内插器解决方案验证，完全符合严格的 jedec 标准。这是业界首款 ddr4 存储器解决方案。”
ddr4 bga 内插器解决方案支持不同的封装。n2114a x4/x8 bga 内插器可以探测 x4 和 x8 dram 封装设计。n2115a x16 bga 内插器可以让工程师对 x16 dram 封装设计进行探测。两款产品均可通过高带宽焊入式 infiniimax ii/iii 探头与示波器连接。
用于infiniium系列示波器的 ddr4 球形栅格阵列（bga）内插器探测解决方案。ddr4 bga 探头与示波器结合使用，可以让工程师调试和表征他们的 ddr4 内存设计，以及验证器件与 jedec ddr4 标准的一致性。http://thwy02.51dzw.com/
