数码产品中逻辑信号处理频率越高，信号所需的上升沿越陡峭。对于半导体测试设备来说，波形品质特别重要。在测量被测器件(DUT)的过程中，测试信号通过某些继电器到达DUT，但在到达前信号会衰减。 TLP3375和TLP3275将重点放在高频信号的通过特性上，等效上升时间(ERT)分别大幅改进至40 ps 和 60 ps。此外，TLP3375 採用新开发的超小型USOP封装，支援高密度封装。
特徵
杰出的高频通过特性
应用
半导体测试设备
测量设备
轮廓图
高频通过特性小型光继电器:TLP3375,TLP3275
