SENTECH紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪SE 800针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。
针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。
·快速、精确的椭偏测量与分析
·光谱范围宽达300nm－930nm
·步进扫描分析器（SSA）测量模式，提高信噪比
·宽带超消色差补偿器，用于去极化效应修正
·起偏器跟踪技术，计算机控制起偏器角度
·SpectraRay II－功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
·对专家和初学者同样易于操作
·SENTECH专有的材料数据库和样品应用程序，方便有效地建模
·SpectraRay复杂软件光谱椭偏分析包含复杂多角度、多样品数据分析，可编程用户接口和先进的报告
光谱范围:
300 nm - 930 nm UV-VIS
光滑样品表面
240-930nm
样品尺寸:
可放置156 x 156 mm,200 x 200 mm电池片,或其它尺寸
衬底:
透明、半透明，非透明衬底
光学和机械部分:
椭偏操作原理:
结合PSA 和 PCSA 二种模式:
P: 起偏器
C: 补偿器 (超-消色差)
S: 样品
A: 步进扫描分析器
光源:
稳定75W 氙弧灯提供UV/VIS光谱
寿命:超过1000小时
起偏器 / 分析器:
UV Glan Thompson 晶体
计算机控制检偏器和起偏器
消光比:
10-6
测量光斑:
手动可调直径范围1 mm -- 4 mm
选件:200 μ 微光斑
探测系统
高灵敏度CCD
样品台:
高度和水平独立精密调整
样品对准:
自动对准显微镜和光学显微镜适用于最准确的样品对准(聚焦和水平调整)
选件:
CCD 像机,
推荐用于硅太阳能电池测量
测量时间:
全ψ / Δ 谱:
典型时间: < 10 s
控制器:
模块化单元带桌面椭偏光学透镜和量角器
分立的19”机架包含光源, 椭偏仪控制器,带电路板和微控制器单元,光度计
计算机:
HP台式PC机,
17” TFT-FPD显示器, 键盘, 鼠标, Windows XP 操作系统
功率需求:
额定电压:115/230 VAC
自动选择 (100-132 VAC or 207-264 VAC),
额定频率: 50-60 Hz,
额定功率: 350 W.
环境:
普通光学实验室环境，也可用于百级洁净室，不引入污染
数据采集和分析软件:
光谱测量
SPECTRARAY II操作与分析软件包括：
- 系统校准
- 自动设置光学组件
- 手动执行用户定义的任务
- 光谱以标准能量（波数、电子伏特）或者波长单位显示
- 样品响应的逼真监视，在线的ψ和△表述
数据处理：
·SPECTRARAY II包括GRAMS软件包，可操作FT-IR系统和处理光谱数据
·输入/输出：ASCII，CSV，SPC，其他光谱设备
·数学运算
文件管理功能：
软件基于Windows XP平台，提供全面的文件管理功能
用户定义界面：
基于易用的源程序代码，用户可方便地定义测量、操作界面
Accuracy / performance精度/性能
准确度：
δ(Psi): 0.02 °
δ(Delta): 0.04°
(for at least 90% of all wavelength)
常见选件
SE 800-2
计算机控制角度, 精度 0.01°
SE 800-3
微光斑选项, 200μm 光斑直径,UV/VIS
SE800-61
视频显示器用于对准、帧抓取、微区光斑
SE 800-50
光谱扩展到近红外1700 nm
SE-800-NIR
改善近红外光谱到2500 nm
SE 800-15
Mapping样品台, x = 150 mm, y = 150 mm , (带真空吸附) 带快速扫描软件
SE 800-16
Mapping样品台,x = 200 mm, y = 200 mm,(带真空吸附)带快速扫描软件
SE800-51
另一套软件SpectraRayⅡ
SE 800-30
膜厚探针FTPadvanced
SE 400-K100
标准片100mm直径,SiO2 on Si, 额定膜厚100 nm, 有校准证书
SE 400-K80
标准片100mm直径, SiN on Si, 额定膜厚80 nm, 有校准证书
SE800 PV应用报告（晶硅电池减反膜，薄膜电池TCO膜，PIN多层膜测量报告）请致电400- 650－5566或邮件索取。
