QE-R光谱响应测试系统 产品特色:
- 特制高效率集光系统设计,高达70 %以上的集光,有效提高讯号强度,使量测更快更稳定。
- 独家配备两部锁相放大器,同时达到即时监控光强与讯号量测,提供最准确的量测结果。
- 独家整合电脑自动控制讯号切换器,可降低维修及耗材成本。
- 采用原装多光栅单光仪,低杂散光 < 10-5,稳定度高及扫描快速。
- 光源稳定,可长时间持续测试,缩短实验校正时间。
- 数据重复性高达99.5 %。
- 适用于量测各种材料之太阳能电池。

※以QE-R量测三节电池的EQE

※以QE-R比较不同结构之HIT电池
※以QE-R量测硅基三节电池结构的EQE※QE-R量测太阳能电池的差异性小
QE-R光谱响应测试系统 系统说明:
- QE-R标准系统即具备IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有必备功能:
- 依据IEC 60904-8规范设计,可校正、量测光谱响应 / 量子效率。
- 采用德国Fraunhofer ISE同等级之白光偏光源,光源强度可达0~3个太阳 光常数。
- 具备自动电压偏压功能,将电池稳定的维持在短路条件,在测试量测光谱响应 / 量子效率时无须再外接一个电源供应器,省去接线错误的麻烦。
- 量测太阳能电池材料能隙,提供客户重要材料参数。
- 独家光谱不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)计算,提供用户最重要的修正参数。
- 独家全光谱短路电流密度计算(auto interlace演算),可提供最准确的计算结果。
- 短路电流密度光谱,提供客户作为材料分析、制程改进之关键资讯。
- 内部量子效率计算功能,客户可自行输入反射率,计算内部量子效率。
- 高效率集光系统,集光效果 > 70 %,较传统透镜集光系统高于一个数量级以上的光强度,提供系统绝佳的讯噪比与量测的准确性。
- Czerny-Turner多光栅单光仪,低杂散光 < 10-5,高稳定度、扫描快速,光谱范围可达200 nm ~2000 nm。
- 双光束光路设计:
- 同NIM、NIST、PTB国际一级校验单位相同光路设计。
- 量测样品光电流讯号同时监控光强变化,确保量测的高度准确性。
- 讯号多工器,独家整合电脑自动控制讯号切换器,避免拉拔讯号线接头所造成之损坏,降低维修及耗材成本。
- 优异的信噪比,可达100 dB是整体系统优化的结果,客户无须再阅读一般锁相放大器厚重的操作手册,无须自行优化量测时的设定参数,避免人为操作的困扰与错误。
- 直流量测模式,客户无须再拆装任何硬体设备,直接将多功电表,模组化整合到系统内部,大幅简化硬体空间与拆装的不便性。
- 高均匀度参考侦测器(Reference detector)。
QE-R光谱响应测试系统 系統规格
项目 规格仪器大小
- 600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系统,不含作业计算机
重量
- 主体:80kg
量测模式
- 交流量测模式
量测波长
- 300nm~1100nm ,可扩展到2000nm
光班大小
- 2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)
整合型光源系统
- 150WXQ光源系统(或75W Xe灯光源),光源不稳定度<0.1%,可提供300nm~2000nm连续光源
- 高效率椭圆集光镜系统,具备三轴调整旋钮
- 灯源定时器
单光仪
- Czerny-Turner多光栅单光仪
- 0.1nm波长解析,扫描范围 200nm~2000nm
自动滤镜转轮
- 可装载6片杂散光滤镜
- 可手动/计算机控制,具LED显示
斩波器
- 4Hz~500Hz,计算机频率控制
双锁相放大器
- 两部DSP dual-phase锁相放大器整合于系统内,可同时撷取双光束测试讯号
校正探测器
- Si侦测器,10x10m2
- 有效面积内不均匀度<0.5%
- 侦测能力200nm~1100nm
- 附300nm~1100nm光谱回应追溯校验报告
讯号切换多任务器
- 4对1计算机控制讯号切换多任务器
计算机系统
- PC,LCD,Windows操作系统(需自备计算机桌)
软件
- EQE/SR量测控制软件
- 光强度校正
- 多图储存与编辑
- 能系分析功能
- 自动切换参考侦测器与待测电池之讯号
- 样品讯号状态显示
- 内部量子效率计算(客户输入反射率)
- 全光谱短路电路密度计算(自动交错算法)
- 短路电流密度光谱
- 光谱不含致度因子计算软件(自动交错算法)
电力需求
- 可选110V或220V AC单相,<1KVA
操作环境
- 温度:20 ℃~40 ℃,湿度:20%~80%
光强监控模块
- 300nm~1100nm,双光束量测
偏压电压
- 0V~±5V
QE-R光谱响应测试系统 选购功能
项目 规格双光源系统
- Xe + QTH 双光源系统,含两组高效率椭圆集光灯系统,计算机控制电源切换
- 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(选购双光源后的材积)
偏置光源
- 150 W 白光偏光光源
全自动多接面量测套件
- 可量测:
- aa-si; au-si double-junction;
- aau-si; auu-si; aug-si triple-junction;
- III-V double-junction and triple-junction;
- OPV double-junction
内部量子效率量测模块
- 2”积分球
- 硅侦测器,波长范围 300 nm~ 1100 nm
- 积分球切换机构
- 反射率 / IQE 量测软件
穿透率量测模块
- 穿透率量测侦测器,si 300 nm ~ 1100 nm
- 穿透率量测软件
- 量测样品台,样品大小 max. 20 x 20 x 3mm3 (min. 10 x 10 x 1 mm3)
长波长扩充套件
- Ge 锗参考侦测器,900 nm ~ 1800 nm 含校正报告
- InGaAs 参考侦测器,1000 nm ~ 2000 nm 含校正报告
UPS
- Online UPS > 1.5 KVA
Mapping
- XY自动平台,200 nm x 200 nm行程,2.5 um resolution
- Mapping量测软件
- 任意波长QE扫描等功能
- 自动光强校正 / 样品量测 / 位置调整
其他
- 直流量测模式、客制化样品台、数字影像显微镜下针监控系统、反射率内部量子效率量测、吸收光谱量测(需选购反射率及穿透率套件)、系统使用效益统计分析、制成改进分析功能、供电系统分析、光束引致电流空间扫描3D扫描量测与分析、多点EQE自动量测
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