美国半导体测试联盟（stc）开始制定名为“semiconductor test interface extensions（stix）”的新标准。在7月16日～20日于美国旧金山举办的半导体相关展会“semicon west 2007”上，stc在其展区全面介绍了stix的制定过程。
在semicon举办前的6月下旬，stc发布了与stix的发起相关的公文（英文发布资料，pdf）。此前，stc一直在制定被称为“openstar（open semiconductor test architecture）”的面向模块式lsi测试器的标准。
stc的主导会员企业——爱德万测试（advantest）此前已投产了依据openstar标准的soc测试器“t2000”系列，目前已向stc的另一主导会员企业——美国英特尔供应了上百台t2000。
stc于06年10月进行了可以说是stix预告的发表。此次宣布将当时涉及的范围从lsi测试器一个领域扩大至所有测试工序。扩充其内容的是stix。stix的范围较广，不仅包括硬件，还涉及软件。
stix的制定工作由多个工作小组（wg）负责。名为“stil（测试设计语言）”、“docking & interface”、“probe card”及“university”的四个工作小组已开始工作。“user level api”、“instrument abstraction layer”、“tooling abstraction layer”及“asynchronous test interface”这四个工作小组正在筹备之中。将来，还计划成立“data logging”、“test program generation”及“ed interface”三个工作小组。
stc表示，过去1年内已有11家企业、6名个人及15所大学成为stc会员。至此，会员数量已超过100个。其中，企业会员为46个。
