11月9日，泰瑞达日本（纽约证交所：ter）在东京召开了其第八届年度技术研讨会。本次会议吸引了来自日本领先半导体公司的150多名测试系统用户和工程师，他们将借此机会分享有关半导体测试领域的技术知识并交流意见。会议日程包括24场技术会议和由《nikkei microdevices》杂志主编hiroshi asakura先生提供的主题演讲。
技术会议涵盖汽车与微控制器设备测试、测试趋势、独特解决方案、成像器、数字消费者及测试支持。主题分会由来自日本主要半导体公司的经理人主持，这些公司包括旭化成、emd、nec电子、瑞萨、索尼、德州仪器|仪表日本和东芝。
asakura先生在演讲中重点描述了大规模集成电路（lsi）、微机电系统（mems）和平板显示器设备领域的最新发展趋势，以及日本企业超越竞争对手必需采取的策略。他建议企业转变发展战略，聚焦关键市场部分，进行合理取舍。asakura先生说："市场的全球化趋势日益增强，成本竞争力对于企业生存，发挥着越来越重要的作用。在这种竞争环境下，公司不得不聚焦经营自身擅长的市场，并在已选择的部分中进行投资。"
