据教育部科技发展中心网2006年7月5日报道：澳大利亚联邦科学与工业研究组织（csiro）的研究人员们研制成功一种新型x射线显微镜，它能够对不透明或多层结构的物体内部进行高分辨率成像。
以前x射线技术不能在微米水平上进行高分辨率成像，尤其是对x射线吸收率非常小的物体。最近，csiro的科学家们利用高性能x射线显微镜和多种x射线相差成像技术，可以直接对不透明或多层机构物体内部成像。
断层x射线扫描成像技术是通过在不同角度成像进而重建出物体的三维结构的技术，它可以转动或者对多层结构进行非常细微的成像。
csiro与xrt公司合作开发的这些x射线设备与方法还在不断完善中，他们想要把这种技术用于工业上的早期损伤探测上去。x射线超倍显微镜可以把不透明或多层结构物体的内部结构成像分辨率提高到亚微米水平，达到50纳米。而商业应用的x射线微聚焦源的分辨率只能达到1微米左右。
这种新型x射线成像方法可以应用于材料科学、空间技术、生命科学、食品检测、微电子学和地质学。它还能应用于生物技术，以及下一代能源产品中的微电子器件与材料。
