Sapphire D-10荣获“Best in Test Award” 奖项

科利登系统有限公司日前宣布其sapphire d-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”best in test award”(译:最佳测试奖)奖项。

sapphire d-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。sapphire d-10是一款极紧凑的测试系统,它采用先进科技,集成了更多更好的特性功能。sapphire d-10的设计充分地考虑了不管是量产测试还是工程验证的不同测试要求。

《测试与测量世界》主编rick nelson说:2006年度best in awards奖项只颁给那些能给测试界带来重大技术革新的新产品。我们的编辑之所以选择科利登的sapphire d-10做为该奖项的获奖者是因为该款系统综合了高速的数据交换网络,基于fpga的高度灵活性以及高密度的cmos集成来提高系统测试各种消费类芯片的产能和效率。

科利登系统公司总裁兼首席执行官dave ranhoff(中文名:任永浩)说:我们非常高兴能荣获该奖项。做为一种革新的测试系统设计理念,并结合科利登的先进技术,sapphire d-10迅速地获得了全世界市场的接受和认可。事实上,该系统首先在北美和亚洲的多个idm和 osat工厂被采用正好证明了它在降低内置mcu,显示驱动控制和无线基带芯片测试成本时的重大成果。

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发布日期:2019年07月04日  所属分类:新闻动态