（电子市场网讯） 2006年1月9日到10日,，科利登2006年系列研讨会在深圳揭幕。本站会议为期两天，共分为两部分：9日全天为科利登主题演讲，会议在深圳举行；10日下午上机演示过程，地点在香港。 在深圳的主题演讲过程中，来自科利登公司各个领域的技术专家针对各自的主题发表了演讲，包括有rfid/spi器件测试、物理纠错的重要性、移动器件测试方法、高速总线测试基本原理、集成电路测试发展趋势、零中频收发器件的测试步骤，最后是关于科利登sapphire d–10操作平台的详细介绍。此次研讨会的目的旨在帮助科利登中国华南地区的客户应对各类测试挑战，从而找到最佳的测试产品。
香港的上机演示课程有非挥发存储器测试系统：personal kalos；诊断特征分析五金|工具-optifib；模拟信号/电源|稳压器管理测试系统-asl 1000；微控制器、无线基带、显示驱动器件以及低成本消费类混合信号期间测试系统sapphire d–10。
据悉，科利登系列研讨会将会陆续展开。
