NI中国第二届“设计、验证及测试论坛”落幕

美国国家仪器|仪表有限公司(national instruments,ni)日前在上海举办了第二届“设计、验证及测试论坛”(design validation test forum,即dvtf 2005),今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。

此次论坛分为热点技术专题与实时应用专题同时进行。ni主持了“利用新兴的pac技术解决工业控制面临的挑战”、“用labview开发实时系统应用”等5场专题研讨会,英特尔以及其他公司也提供了“embedded market solutions - pci express technology”、“采用高速数字示波器进行pci express分析和一致性测试”等讲座。此外,每家参展厂商都有各自的展示区域,可以与参观者面对面地交流。

ni称,前来参加会议的代表通过参加此次论坛了解到测试及控制领域最新的技术及发展趋势。据该公司表示,此届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参加,其中97.1%的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”,70%将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间,ni提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术,并着重强调了pci express和fpga这两项。

除了泰克电子以外,今年ni还邀请了英特尔、科梁科技(aeetek)、quanser、cybosoft(博软科技)、泛华测控和聚星仪器等行业内外相关领域的多家企业共同参与。基于两届活动的经验,ni称将在明年继续举办第三届“设计、验证及测试论坛”。

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发布日期:2019年07月04日  所属分类:新闻动态