从2004年下半年开始，半导体的生产设备运转率呈下降趋势，foundry各厂商业绩低迷，idm各公司削减设备投资也影响到了对半导体测试设备的投资。
特别是平板电视、数码相机等产品的需求没有达到预计的增长幅度，soc测试设备市场至2005年上半年为止仍持续低迷。但另一方面，在memory相关制造商正式开展ddrii量产的背景下，对测试设备的需求向相对较好的方面发展，各国idm制造商、foundry厂商购入前道测试设备，后道厂商也继续购入高端、能同时测定多个memory的测试设备。虽然从去年下半年开始，受lcd驱动ic自身低价格竞争的影响，lcd驱动ic测试设备需求低迷，但由于有来自testhouse的订单，在一定程度上有所弥补。
在memory测试设备方面，预计今后ddrii、qdr等高速memory的测定将会有更大需求。能对应这方面测度要求的t5593被用于高端产品的量产中，它能降低测试成本，缩短从评价分析到量产的tat时间，提高测试效率。今后，在对应ddriii、xdr-rambus等产品方面，面对实现更高速的测定，同时兼顾量产的低成本要求，开发新的测试设备是必需的。另一方面，在soc测试设备方面，客户亟待能全面对应从低端到高端应用的测试解决方案，而削减影响芯片单价的测试成本更是芯片制造商要解决的课题，测试设备供应商必须拿出针对各个芯片的低成本测试解决方案。
作为半导体测试设备的技术性课题，memory测试设备在wafer测试、final测试时要实现高速的多个芯片的同时测定，以及如何对应各mem-ory制造商各自的技术要求，成为我们研究的课题。
一方面，关于soc测试设备，针对很宽泛的应用范围，开发出对应于各种芯片的专用设备；或是在单一平台上来对应广泛的应用，用实现多个芯片同测来削减测试成本，能灵活进行pin数对应、功能对应并且价格低廉的测试机也是客户所需的。另外，为了削减测试成本，如何从设计阶段开始就考虑测试的解决方案，提高良品率，有效率地实现复杂芯片的测试，将优质的lsi推向市场方面的dft(designfortest)的理念越来越重要。爱德万测试依靠最尖端的memory测试技术，在高速memory芯片的wafet测试、final测试上可实现多个芯片的同测，在memory测试设备市场上占据了近70%的市场份额。从客户的反馈情况来看，更高端的产品开发已经成为可能。
另一方面，在爱德万测试的soc测试设备方面，有面向数字家电、消费类ic测试，在市场上拥有很大份额的t6500系列；有在lcd驱动ic方面具有很高的市场占有率的t6300系列；有测定等离子显示屏用的驱动芯片的t6200系列；有测定模拟芯片、车载电子用混合芯片的t7700系列等，对应广泛应用的产品阵线，以满足客户不同的需求。
