(1)鉴定批准／质量评定体系
①当这些文件用于完整的质量评定体系，如ikc电子元器件质量评定体系(1ecq)时，鉴定批准和质量一致性检验应遵守下述程序。
②当这些文件在质量评定体系之外作为设计验证或定型试验用时，可以采用下述的程序和要求，但各种试验和各种试验要素应按试验一览表给定的顺序进行。
(2)初始制造阶段
对压电陶瓷滤波器，初始制造阶段应在分规范中规定。
(3)结构类似元件
鉴定批准和质量一致性检验用结构类似元件的划分应在分规范中规定。
(4)鉴定批准程序
①制造厂应遵守
——管理鉴定批准的程序规则的一般要求；
——上述规定的初始制造阶段的要求。
②除要求外，应采用下述程序a或程序b
a．制造厂应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验和一个批次的周期检验，以证明符合规范要求。在组织检验批的周期期间内制造工艺应无重大改变。
样品应从符合iec410附录a规定的各批中抽取。授予鉴定批准的中心频率和通带宽度按分规范规定的抽样程序由所抽样本来确定。
应使用正常检查，但当样品数按零个失效接收时，应增加样品以满足按一个失效接收所需的样品数。
b．制造厂应按分规范所规定的固定样品数试验一览表进行试验，以证明符合规范要求。
样品应从现行生产的产品中随机抽取或按国家监督检查机构协议抽取。
③作为质量评定体系的一部分所获得的鉴定批准，应该由符合质量一致性要求的正常一致性验证试验来维持。否则，该鉴定批准必须按iecq／qc001002的11．5．2和11．5．3所给出的鉴定批准的维持规则来检验。
(5)质量一致性检验
与分规范有关的空白详细规范，应规定质量一致性检验的试验一览表。
此一览表还应规定逐批和周期检验的组别划分、抽样和周期。
检查水平和aql应从iec410给定的数值中选取。
如果需要，可以规定一个以上的一览表。
①放行批证明记录
有关规范规定有放行批证明记录而且用户要求时，至少应给出下列内容：
——周期检验所包括的各分组试验项目的计数数据(即受试元件数和失效元件数)，而不涉及造成拒收的参数。
——按分规范的要求，在耐久性试验后，中心频率、通带宽度和插入衰耗的变量数据。
②延期交货
保存周期超过一年的压电陶瓷滤波器(除非分规范另有规定)，这种批在以后放行时应在发货前按分规范的要求重新检验。
制造厂质量管理负责人所采取的重新检验程序应由国家监督检验机构批准。
一旦某一批满意地通过重新检验，其质量就再次保证一个规定的周期。
③b组试验完成前的发货
对于b组所有试验当按iec410放宽检查条件得到满足时，允许制造厂在试验完成前放行元件。
(6)替代试验方法
有关规范中规定的试验和测量方法并不一定是必须使用的惟一方法。因而，制造厂可以采用任何替代的方法，但应使国家监督检验机构确定它所得的结果与用规定方法所获得的结果等效。在有争议的情况下，只能使用规定的方法进行判定和仲裁。
