低价位光谱椭偏仪，用于在UV/VIS / NIR光谱范围测量薄膜厚度及其折射率
SenPro椭偏仪是新一代低价位光谱椭偏仪，以快速测量、使用简易和对样品操作为特性。
SenPro能够测量单层薄膜的厚度和折射率。
规格
光谱范围 250 nm ... 900 nm测量时间 单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms可变入射角度 45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg载物台 可调节高度和倾斜度的载物台，手动25 mm x-y 方向移动光源 Xe弧光灯分光计 扫描式单色仪软件 光谱椭偏仪软件，支持测量、建模、拟合椭偏光谱，材料库，protocol功能，输出数据计算机 USB 接口连接 PC，包含PC、WindowsXP操作系统电源需求 115/ 230 V, 50 / 60 Hz尺寸 850 mm x 400 mm x 300 mm重量 35 kg
