源测量单元(SMU) 由于其将可编程电源、可编程负载和DMM的功能集成到一台仪器而日益普及。 然而，大多数工程师只是表面上理解了SMU对其测试系统性能和吞吐量的影响。 为了实现减少成本和测试时间的最终目标，以下七个技巧可让您更快速、更经济地分析和验证产品。
1. 使用示波器监测启动电压
SMU未达到稳定状态就开始测量会导致不确定的测试结果，但等待过久又会浪费宝贵的时间。 这时，您可使用示波器或数字化仪来探测SMU的输出电平，同时将其连接到待测设备（DUT）以确保等待SMU达到稳定状态开始测量的时间不会过短或过长。
图1. 使用示波器或数字化仪探测SMU的电压输出线，优化测量质量和时间。
过去查看SMU的输出需要使用配有电压和电流探针的外部示波器。 而PXIe-4139精确系统SMU集成了一个1.8 MS/s数字化仪，避免了使用外部示波器和外部电缆的需要 - 输入功率可直接通过内部通道探测。 此外，如果在测试过程中发现任何嘈杂的电源轨，可以使用数字化仪进行故障排除。
图2. PXIe-4139精确系统SMU具有集成的数字化仪，可简化特性分析和验证过程中输出功率电平的监测。
2. 评估单位通道价格和测量时间
解决高通道数测试要求的一个常见方法是在SMU和待测设备之间添加一个开关或多路复用器。 虽然这种方法比较经济，但会让测量序列化，大大降低工作效率，因为我们必须等待开关达到稳定才能开始测量。
图3. 针对高通道数应用增加SMU通道可提高生产效率，并大大降低测量时间。
模块化SMU通道密度的最新改进极大地降低了SMU系统的单位通道价格。 PXIe-1085 24 GB/s机箱等18槽PXI机箱可以容纳多个4通道SMU，比如PXIe-4141精确SMU，在19英寸的测试仪器机架中形成一个68通道系统。 由于采用PXI架构，所有SMU均可共享相同的CPU、触发线和电源，这样不仅有助于降低资金成本，而且可减小生产车间的占地空间成本。
图4. 高密度PXI SMU能够在单个4U机架内形成高达68 SMU通道的系统。
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