HORIBA Jobin Yvon推出新款辉光放电光谱仪

7月24日，horiba jobin yvon推出了该公司最新一代gd-profiler（tm）2型辉光放电光谱仪。该仪器采用了全新的高速电子学设计，从而使其深度分辨率达到小于1nm。同时，系统采用了著名的脉冲rf源，可以轻松应对热敏性导电和不导电表面的分析。独特的hdd检测器使得对于每一个元素分析的动态范围可瞬时达到十个数量级。而仪器的大体积样品室则进一步扩展了其应用范围。