复用不仅是soc设计思想的核心，也是解决soc测试的基础。本文在分析soc的基本概念和特点的基础上，从复用的角度对现有的soc测试方案进行分析和综述，并探讨了亟待解决的问题。
关键词：芯片上系统；测试；复用
1 引言
90年代国际上出现的soc概念，以系统为中心、基于ip模块多层次、高度复用的设计思想受到普遍重视和广泛应用 [1，2]。soc的高集成度和复杂度使得soc测试面临挑战，传统的基于整个电路的测试方法不再适用。对于ip模块和soc而言，在电路设计向可复用这一目标发展的同时，测试中的复用也变得愈加重要，成为解决soc测试的关键 [3]，也成为目前该领域研究的焦点。本文在分析soc与sob（system on board）本质区别的基础上，阐明复用对于soc测试的重要性，对现有主要几类基于复用思想的soc测试进行分析。
2 soc的测试
soc使集成电路设计者分为两个部分：ip模块的设计者和soc集成者（ip模块的使用者）[2,4,5] 。ip模块是设计者提供的具有特定功能和相关参数描述的模块；而soc集成者利用它们和用户自定义逻辑（udl）集成在一起，实现既定的功能。从表面上看，这种设计类似于传统的基于芯片的sob 设计，但二者存在本质区别。
sob中的ic是经制造生产和测试后的实体，因此对sob集成者而言，测试是针对系统中ic之间连接的测试。在sob的设计集成过程中，ic的制造商和系统的集成者有相对独立的测试开发和实施阶段，如图1所示。从描述的层次而言，soc中的ip模块可以分为软核、固核以及硬核。每一个核又可以是若干更小的模块共同构成,但无论什么模块，相对于sob中的芯片而言是虚拟器件，在进行soc集成设计时都未经物理实现。ip模块提供者对所设计的虚拟模块进行测试开发，却不能对ip模块进行实际的物理测试。因此ip模块设计者和soc集成者的测试开发和实施将不再是彼此独立和分割的两个阶段。soc集成者要完成包括ip模块在内的整个芯片的测试方案[2]。因此，soc测试较传统的sob测试而言，更加复杂，也更具挑战性。
3 复用技术与soc测试
随着技术的发展和市场的需要，ip模块和soc 的设计正逐渐以分布和并行的方式进行。来源于不同的各种ip模块的多层次复用是soc的基础。ip 模块是对功能和实现方式的描述，是未经物理实现的虚拟器件，不同类型的ip模块有不同的模型和测试方法，ip模块的提供者虽然无法对模块进行物理测试，但必须向soc集成者提供模块的测试信息，其中包括模块的测试方法、可测性结构、测试产生方法及测试集等 [2,4,6]。
如果不以这些模块的测试信息为基础，soc集成者就无法对高达千万门级的芯片进行测试，而复用则是soc测试的关键。因此，国际上ieee p1500工作组和vsia（virtual socket interface alliance）联盟正在制定相关的国际标准[6,7] ，研究焦点集中于规范ip模块设计者和soc集成者之间的软硬件接口，如模块测试语言（ctl，）和可扩展结构，以实现soc测试中ip模块测试信息的即插即用。但标准并不进行复用方法和测试集成及优化的研究，有许多问题尚未解决。因此采用何种方式复用，如何解决复用中遇到的问题成为目前 soc测试研究的焦点之一。从复用的角度，现有的soc测试解决方案大致分为两类：直接复用和间接复用。
3.1 直接复用
该方法的基本思路是自顶向下，直接在芯片级使用已有的模块测试信息，通过实现对每个ip模块的测试访问从而解决整个芯片的测试[8]。核心是通过构建测试通路实现对各ip模块的测试访问，前提是各ip模块都具有良好的可测性和完整的测试信息。这类方法的有效性关键在于两个方面，即各模块原有测试信息的质量和在soc中各模块测试访问的实现。具体的方案如下。
① 测试总线。arm公司发布的32位amba（advanced microcontroller bus architecture）总线结构，通过解决每个ip模块的测试访问问题来最终完成整个soc的测试，
