现在的大多数仪器通过将封闭式FPGA与固定固件相结合来实现仪器的各种功能。如果您看过一个拆解后的示波器，您可能已经看过里面的FPGA.FPGA提高了测试仪器的处理能力，而且如果您会使用仪器中的开放式FPGA，就可以自己编写仪器的测试功能。
仪器厂商早就认识到FPGA的优势，而且也利用其独特的处理能力来实现仪器的各种特性：
*在示波器上进行预触发采集
*在矢量信号分析仪上通过信号处理生成I和Q数据
*实时实现模式生成和高速数字仪器的向量比较
测试设备制造商正在致力于帮助用户更好地利用FPGA，以针对更多的特定应用进行优化。为了帮助您理解这一转变的好处，以下几点是FPGA特别适用于测试应用的关键属性：
*确定实时的处理
*真正的并行执行
*可重配置
*低延迟
再进一步思考一下，您可以利用开放式FPGA来实现以前无法实现的哪些功能呢？为了说明这些可能性，以下介绍了一些利用开放式FPGA的常见测试应用。
加速测试系统
在高产量生产线的末端生产测试中，测试时间分秒必争。当生产线的测试速率与生产速率相匹配时，生产效率达到最大。如果无法实现这一匹配，则必须采用创新的技术来缩短测试时间。传统的方法通过以太网、USB或GPIB将独立的台式仪器连接到PC主机上。由于待测设备通过不同的数据总线分别进行控制、测量和处理，因而所需要的测试时间相对较长。另一种方法是使用开放式FPGA来加速该过程，如图1所示。
图1：在测试仪器中，开放式FPGA可实现触发和后处理等功能。
FPGA没有利用外部通信总线，而是使用PXIe等高速总线来连接仪器，并通过其配置端口（如I2C、SPI或其他控制总线）连接到待测设备。在此类应用中，FPGA可控制DUT（待测设备）、触发其他仪器开始采集采样数据，甚至对这些采样数据进行处理，将其转换成对主机有意义的结果。
低延迟是能够加快此类应用运行速度的一个关键因素。FPGA本身并不具有操作系统，它是在具有高速时钟速率的硬件上实现所有逻辑。这意味着一个响应可能需要一个时钟周期来进行采集、一个时钟周期来进行处理以及一个时钟周期来做出响应。如果时钟速率为200MHz（时钟周期为4ns），则一个完整的响应需要12ns.由于FPGA的确定性特性，这种响应并不是一次性的，而是每一次都是12ns.因此，FPGA就可以省去与主机相关的延迟，而且可以最小化基于主机的处理的非确定性延迟。
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