晶体与振荡器—哪种方案更适合于无线设计的成本要求？
当设计新的无线系统时，首先要做的决策之一就是到底采用晶体加独立振荡器电路的方式，还是直接选用预封装的成品振荡器。尽管设计人员希望利用便宜的晶体再配合自己设计的振荡电路来降低成本，但研究表明，成品振荡器为无线系统设计提供了最经济的解决方案。
根据最终应用不同，在决定采用什么样的频率源时，通常有三个主要因素需要考虑：对于无线系统设计来说，超高精度的频率源是非常关键的；此外，对于便携式设备和pcmcia卡来说，尺寸和成本也非常重要。
在这我们比较了成品振荡器与晶体加独立设计的振荡电路两种方案在成本和设计时间方面的差别，从而帮助设计人员在深入了解的基础上为所开发的系统选择性能最好、成本最经济的解决方案。
晶体加独立振荡器电路--技术指标的变化
尽管晶体本身成本低，但对于满足无线应用的高精确度要求来说，晶体加独立振荡器电路却并不一定是最好的选择。让我们以一个需要±25 ppm频率源的应用为例来讨论这一问题。这样的频率精度要求使用的晶体偏差要达到±10 ppm，稳定度达到±10 ppm，老化率达到±5 ppm。尽管这看起来相当简单，但我们仍然需要考虑由于测试设备相关的变化以及负载电容量所导致的晶体频率偏差。晶体频率会随着负载的变化而变化，这通常称为微调灵敏度(trim sensitivity)，并以ppm/pf来表示。(请注意：本文中的所有计算都假设晶体的微调灵敏度为13 ppm/pf。)
当利用晶体阻抗计对晶体进行测试时，一般是在与实际设计一样的负载电容条件下测试。然而，阻抗计的精度仅为特定负载的2%。例如，如果需要的负载为20pf，那么晶体从阻抗计实际“看”到的负载可能范围为19.6pf 至20.4pf。如果晶体的微调灵敏度为13ppm/pf，那么实际的读数精度将只有±5.2ppm。因此，对于测试偏差为 ±10ppm的晶体，其实际偏差可能为±15.2ppm。
考虑到这一点，我们可以将晶体的技术指标要求修改成偏差为±10pm，稳定度为±6ppm。这为测试偏差留出了±6ppm的缓冲。然而，我们仍然必须考虑到负载电容数值的变化。
电路中晶体实际的负载电容变化源于几个因素，包括负载电容器件本身的变化。例如，设计负载为两个精度为1%的33pf电容，而 20pf固定电容的寄生电容可达3.5pf。因此由于负载电容的偏差，实际的负载电容可能从19.835pf至20.165pf或20pf ±0.165pf(参看图1)，这样，最终的晶体频率会变化±2.15ppm。这里假设寄生电容为恒定的3.5pf，而实际上寄生电容对于不同的电路板和不同的ic都是不同的。
假设不同电路板之间的寄生电容变化为 ±1.3pf，不同ic间的变化为±0.7pf，那么总的变化为±2pf。寄生电容以及负载电容的变化总值将使晶体的实际负载电容为17.835pf 至 22.165pf，或20pf ±2.165pf。这意味着晶体的频率变化可达到±28.15ppm。
由于设计目标精度为±25ppm，单块电路板本身的变化就使设计人员很难保证±25ppm的设计精度了，即使设计人员使用精度最高的晶体，例如，使用偏差、稳定性和第一年老化率在内的总偏差为±18ppm的晶体，同时假设测试误差仅±2ppm，那么要想满足设计目标，设计人员仍然必须将电路板引起的总电容变化控制在±0.4pf。
预封装振荡器—精度更高，设计更容易
在生产预封装成品振荡器时，供应商在电路中对晶体频率进行了精细调整，这样可以生产出与相关因素无关的精度更高的振荡器，而设计人员采用成品晶体和自己设计的振荡器电路组合时就无法避免这一问题，这样也避免了采用成品晶体和分立振荡器时所需要的大量设计工作，并且可保持合理的成本。
在体积方面，晶体加分立振荡器组合和成品振荡器两种方案的长度和宽度都一样，而根据所选择的产品不同，后者的高度通常增高0.3mm到0.4mm。举例来说，fox electronics公司的f535l(参看图2)是该公司最小的振荡器，尺寸最大为5.0 mm × 3.2 mm × 1.3 mm，而同样长宽尺寸的fx532晶体(参看图3)高度最大仅为1.0mm。因此预封装晶体振荡器唯一的缺点是高度稍微增加了。
总体成本差别
