双向可控硅的测量(晶闸管测量)

    1.用指针式万用表电阻档测量可控硅阳极和阴极双向可控硅的测量(晶闸管测量)是否短路,双向可控硅的测量(晶闸管测量)双向可控硅的测量(晶闸管测量)下双向可控硅阳极和阴极双向可控硅的测量(晶闸管测量)的电阻在数十千欧双向可控硅的测量(晶闸管测量),如用万用表测量时已短路或电阻已小于10千欧以下,可判断可控硅已击穿损坏。
    2.用万用表分别测量双向可控硅触发极与阴极双向可控硅的测量(晶闸管测量)的电阻值,双向可控硅的测量(晶闸管测量)再几欧至百十欧以内的正常,触发极与阳极双向可控硅的测量(晶闸管测量)的电阻值,双向可控硅的测量(晶闸管测量)再十千欧双向可控硅的测量(晶闸管测量)为正常。
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发布日期:2019年07月13日  所属分类:参考设计